Вопрос 1
Шаблоны нового АС
Шаблоны нового АС — вариант 7
Просмотрите все вопросы и варианты бесплатно. Правильные ответы скрыты и открываются только после получения доступа.
Содержание теста
Вопросы и варианты
Без отметок и подсказок к правильным ответам
Быстрый поиск
Показано 17 вопросов
Найдите вопрос внутри теста
Ищем по тексту вопросов и вариантов ответа на этой странице.
По вашему запросу ничего не найденоПопробуйте сократить фразу или проверить написание.
Вопрос 2
Для контроля текстуры поверхности детали используется система технического зрения. Микрорельеф имеет периодичность 0,5 мм и амплитуду 0,05 мм.Какой параметр оценивается системой?
Вопрос 3
Система СТЗ (системы технического зрения) имеет разрешение 0,02 мм и скорость измерения 500 объектов/мин. Допуск по длине детали 0,1 мм.Учитывая «золотое правило» погрешностей, можно ли использовать эту систему для контроля?
Вопрос 4
Преподаватель задал студенту вопрос о том, какой метод (контактный или бесконтактный) лучше подходит для высокоскоростной линии.Что должен ответить студент?
Вопрос 5
Оптическая система с дефокусировкой имеет функцию отклика Изображение объекта f(x) подается на систему.Какой метод позволяет получить выходное изображение?
Вопрос 6
В оптической системе применяется преобразование Фурье.Если частота объекта f = 10 мм-1, а длина волны света λ = 0,0005 мм, можно ли выделить эту структуру через оптический фильтр?
Вопрос 7
Когерентная система использует точечный источник и амплитудно-фазовый транспарант. Через транспарант проходит свет с амплитудой A = 1 и фазой φ = π/2.Как изменятся амплитуда и фаза после транспаранта, если он умножает амплитуду на 0,8 и фазу на π/4?
Вопрос 8
Для моделирования отклика точечного источника применяется дельта-функция δ(x).Какой результат даст свёртка δ(x) * f(x)?
Вопрос 9
Изображение детали имеет периодическую структуру с шагом 0,2 мм. Оптическая система Фурье-анализатора рассчитана на частоты до 5 мм⁻¹.Можно ли измерить эту структуру?
Вопрос 10
Система типа 4F применяет линзы с фокусным расстоянием 100 мм. При обработке изображения спектр высокого контраста выделяется на расстоянии f = 100 мм.Что происходит с пространственными частотами?
Вопрос 11
Контроль тел вращения на линии со скоростью 1000 шт./мин. Система «Контур-1» имеет время обработки 0,05 с на один объект. Соответствует ли система требованиям линии?
Вопрос 12
При корреляции изображения детали с эталонным контурным транспарантом значение функции корреляции ρ = 0,95.Можно ли считать совпадение достаточным для контроля?
Вопрос 13
Френелевская система формирует изображение объекта на расстоянии 200 мм. Объект имеет размеры 5 мм. Разрешение системы 0,05 мм.Можно ли точно измерить объект?
Вопрос 14
При пороговой обработке френелевского изображения амплитуда сигнала объекта = 0,7, порог = 0,5.Какой результат?
Вопрос 15
Дифракционный метод измеряет объект размером 0,5 мкм, длина волны λ = 0,5 мкм.Какой порядок дифракции позволит измерить объект с разрешением 0,05 мкм?
Вопрос 16
Объект размером 1 нм измеряется дифракционной системой с верхним пределом 10 нм.Возможно ли измерение?
Вопрос 17