Шаблоны нового АС

Шаблоны нового АС — вариант 7

Просмотрите все вопросы и варианты бесплатно. Правильные ответы скрыты и открываются только после получения доступа.

17 вопросов Вариант 7 Доступ 7 дней
Содержание теста

Вопросы и варианты

Без отметок и подсказок к правильным ответам

Вопрос 1

Деталь имеет длину 120 мм, ширину 50 мм и высоту 30 мм. Поля допусков по длине ±0,2 мм, по ширине ±0,1 мм и по высоте ±0,15 мм. Система технического зрения измерила длину 120,1 мм, ширину 49,95 мм и высоту 30,1 мм.Соответствуют ли размеры поля допускам?

  1. Да, все размеры в пределах допусков.
  2. Нет, длина превышает допуск.
  3. Нет, ширина ниже допустимого предела.
Вопрос 2

Для контроля текстуры поверхности детали используется система технического зрения. Микрорельеф имеет периодичность 0,5 мм и амплитуду 0,05 мм.Какой параметр оценивается системой?

  1. Текстурный параметр.
  2. Линейный размер.
  3. Цветовое распределение.
Вопрос 3

Система СТЗ (системы технического зрения) имеет разрешение 0,02 мм и скорость измерения 500 объектов/мин. Допуск по длине детали 0,1 мм.Учитывая «золотое правило» погрешностей, можно ли использовать эту систему для контроля?

  1. Да, погрешность меньше половины допуска (0,02 ˂ 0,05 мм).
  2. Нет, погрешность слишком велика.
  3. Нет, скорость измерения недостаточна.
Вопрос 4

Преподаватель задал студенту вопрос о том, какой метод (контактный или бесконтактный) лучше подходит для высокоскоростной линии.Что должен ответить студент?

  1. Бесконтактный метод. Метод контроля, при котором измерение параметров объекта осуществляется без прямого физического контакта датчика с контролируемым объектом. Основан на использовании различных типов датчиков: оптических, магнитных, индуктивных, ёмкостных и других. Позволяет получать информацию на расстоянии и может применяться в широком спектре условий и сценариев.
  2. Контактный метод. Метод контроля, при котором датчик или измерительное устройство напрямую взаимодействует с контролируемым объектом. Требует физического соприкосновения измерителя с объектом для сбора данных. Это может быть полезно в некоторых ситуациях, но предполагает определённые ограничения и требования к эксплуатации и обслуживанию оборудования.
  3. Ручной контроль. Метод контроля, основанный на визуальной оценке и проверке процесса или объекта непосредственно оператором (человеком) без использования автоматизированных датчиков и приборов. Полностью зависит от внимания, квалификации и способности человека воспринимать и анализировать информацию в реальном времени. Может использоваться как дополнительный или вспомогательный метод контроля.
Вопрос 5

Оптическая система с дефокусировкой имеет функцию отклика Изображение объекта f(x) подается на систему.Какой метод позволяет получить выходное изображение?

  1. Визуальная оценка.
  2. Интеграл свёртки: g(x) = f(x) * h(x)
  3. Прямое измерение.
Вопрос 6

В оптической системе применяется преобразование Фурье.Если частота объекта f = 10 мм-1, а длина волны света λ = 0,0005 мм, можно ли выделить эту структуру через оптический фильтр?

  1. Да, т.к. частота меньше предела разрешения системы.
  2. Нет, длина волны слишком мала.
  3. Нет, частота слишком высока.
Вопрос 7

Когерентная система использует точечный источник и амплитудно-фазовый транспарант. Через транспарант проходит свет с амплитудой A = 1 и фазой φ = π/2.Как изменятся амплитуда и фаза после транспаранта, если он умножает амплитуду на 0,8 и фазу на π/4?

  1. Амплитуда = 0,8, фаза = 3π/4.
  2. Амплитуда = 1, фаза = π/2.
  3. Амплитуда = 0,5, фаза = π.
Вопрос 8

Для моделирования отклика точечного источника применяется дельта-функция δ(x).Какой результат даст свёртка δ(x) * f(x)?

  1. f(x).
  2. f(x) + δ(x).
  3. δ(x).
Вопрос 9

Изображение детали имеет периодическую структуру с шагом 0,2 мм. Оптическая система Фурье-анализатора рассчитана на частоты до 5 мм⁻¹.Можно ли измерить эту структуру?

  1. Да, т.к. частота 1/0,2 = 5 мм⁻¹ входит в диапазон.
  2. Нет, частота выше предела.
  3. Нет, длина волны слишком мала.
Вопрос 10

Система типа 4F применяет линзы с фокусным расстоянием 100 мм. При обработке изображения спектр высокого контраста выделяется на расстоянии f = 100 мм.Что происходит с пространственными частотами?

  1. Происходит пространственная фильтрация частот через Фурье-преобразование.
  2. Происходит усиление амплитуды изображения.
  3. происходит прямое визуальное наблюдение без фильтрации.
Вопрос 11

Контроль тел вращения на линии со скоростью 1000 шт./мин. Система «Контур-1» имеет время обработки 0,05 с на один объект. Соответствует ли система требованиям линии?

  1. Да, время обработки ˂0,06 с (1/1000 мин ≈ 0,06 с).
  2. Нет, время слишком велико.
  3. Нет, система слишком медленная.
Вопрос 12

При корреляции изображения детали с эталонным контурным транспарантом значение функции корреляции ρ = 0,95.Можно ли считать совпадение достаточным для контроля?

  1. Да, значение высокое, объект соответствует эталону.
  2. Нет, значение слишком низкое.
  3. Нет, объект не соответствует эталону.
Вопрос 13

Френелевская система формирует изображение объекта на расстоянии 200 мм. Объект имеет размеры 5 мм. Разрешение системы 0,05 мм.Можно ли точно измерить объект?

  1. Да, размеры˃˃ разрешение.
  2. Нет, размеры слишком малы.
  3. Нет, разрешение системы недостаточно
Вопрос 14

При пороговой обработке френелевского изображения амплитуда сигнала объекта = 0,7, порог = 0,5.Какой результат?

  1. Объект выделяется на изображении.
  2. Объект не виден.
  3. Результат не зависит от порога.
Вопрос 15

Дифракционный метод измеряет объект размером 0,5 мкм, длина волны λ = 0,5 мкм.Какой порядок дифракции позволит измерить объект с разрешением 0,05 мкм?

  1. Порядок n ≈ 10.
  2. Порядок n ≈ 1.
  3. Порядок n ≈ 100.
Вопрос 16

Объект размером 1 нм измеряется дифракционной системой с верхним пределом 10 нм.Возможно ли измерение?

  1. Да, т.к. размер объекта находится в пределах разрешения системы.
  2. Нет, размер слишком мал.
  3. Нет, превышен верхний предел.
Вопрос 17

Дифракционный метод связан с характеристиками спектра.Если дифракционный максимум смещён на угол θ = 30°, а λ = 500 нм, рассчитайте расстояние между объектами d, используя формулу d sinθ = nλ для n = 1.

  1. d = 1 мкм.
  2. d = 0,5 мкм.
  3. d = 2 мкм.