Вопрос 1
Шаблоны нового АС
Шаблоны нового АС — вариант 10
Просмотрите все вопросы и варианты бесплатно. Правильные ответы скрыты и открываются только после получения доступа.
Содержание теста
Вопросы и варианты
Без отметок и подсказок к правильным ответам
Быстрый поиск
Показано 19 вопросов
Найдите вопрос внутри теста
Ищем по тексту вопросов и вариантов ответа на этой странице.
По вашему запросу ничего не найденоПопробуйте сократить фразу или проверить написание.
Вопрос 2
Для контроля текстуры поверхности детали используется система технического зрения. Микрорельеф имеет периодичность 0,5 мм и амплитуду 0,05 мм.<br/><i>Какой параметр оценивается системой?</i>
Вопрос 3
Система СТЗ (системы технического зрения) имеет разрешение 0,02 мм и скорость измерения 500 объектов/мин. Допуск по длине детали 0,1 мм.<br/><i>Учитывая «золотое правило» погрешностей, можно ли использовать эту систему для контроля?</i>
Вопрос 4
Преподаватель задал студенту вопрос о том, какой метод (контактный или бесконтактный) лучше подходит для высокоскоростной линии.<br/><i>Что должен ответить студент?</i>
Вопрос 5
Оптическая система с дефокусировкой имеет функцию отклика <IMG src="/user_files/21/tests/00000000-0000-0001-0021-000000012345/00001.png"></IMG> Изображение объекта <i>f</i>(<i>x</i>) подается на систему.<br/><i>Какой метод позволяет получить выходное изображение?</i>
Вопрос 6
В оптической системе применяется преобразование Фурье.<br/><i>Если частота объекта f = 10 мм</i><sup>-1</sup><i>, а длина волны света λ = 0,0005 мм, можно ли выделить эту структуру через оптический фильтр?</i>
Вопрос 7
Когерентная система использует точечный источник и амплитудно-фазовый транспарант. Через транспарант проходит свет с амплитудой A = 1 и фазой φ = π/2.<br/><i>Как изменятся амплитуда и фаза после транспаранта, если он умножает амплитуду на 0,8 и фазу на π/4?</i>
Вопрос 8
Для моделирования отклика точечного источника применяется дельта-функция δ(x).<br/><i>Какой результат даст свёртка δ(x) * f(x)?</i>
Вопрос 9
Изображение детали имеет периодическую структуру с шагом 0,2 мм. Оптическая система Фурье-анализатора рассчитана на частоты до 5 мм⁻¹.<br/><i>Можно ли измерить эту структуру?</i>
Вопрос 10
Система типа 4F применяет линзы с фокусным расстоянием 100 мм. При обработке изображения спектр высокого контраста выделяется на расстоянии f = 100 мм.<br/><i>Что происходит с пространственными частотами?</i>
Вопрос 11
Контроль тел вращения на линии со скоростью 1000 шт./мин. Система «Контур-1» имеет время обработки 0,05 с на один объект. <i>Соответствует ли система требованиям линии?</i>
Вопрос 12
При корреляции изображения детали с эталонным контурным транспарантом значение функции корреляции ρ = 0,95.<br/><i>Можно ли считать совпадение достаточным для контроля?</i>
Вопрос 13
Френелевская система формирует изображение объекта на расстоянии 200 мм. Объект имеет размеры 5 мм. Разрешение системы 0,05 мм.<br/><i>Можно ли точно измерить объект?</i>
Вопрос 14
При пороговой обработке френелевского изображения амплитуда сигнала объекта = 0,7, порог = 0,5.<br/><i>Какой результат?</i>
Вопрос 15
Дифракционный метод измеряет объект размером 0,5 мкм, длина волны λ = 0,5 мкм.<br/><i>Какой порядок дифракции позволит измерить объект с разрешением 0,05 мкм?</i>
Вопрос 16
Объект размером 1 нм измеряется дифракционной системой с верхним пределом 10 нм.<br/><i>Возможно ли измерение?</i>
Вопрос 17
Дифракционный метод связан с характеристиками спектра.<br/><i>Если дифракционный максимум смещён на угол θ = 30°, а λ = 500 нм, рассчитайте расстояние между объектами d, используя формулу d sinθ = nλ для n = 1.</i>
Вопрос 18
Шокирующая цифра, провокационный вопрос или короткая история, используемые в первых секундах выступления для захвата интереса аудитории, — это презентационный …
Вопрос 19